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X荧光光谱仪XRF的特征谱线的产生是基于不同的机理
  • 发布日期:2020-07-28     信息来源:      浏览次数:35
    •    X荧光光谱仪XRF采用两种分光技术,一是通过分光晶体对不同波长的X-荧光进行衍射而达到分光目的,然后用探测器探测不同波长处X-荧光强度,这项技术称为波长色散光谱。另一项技术是首先使用探测器接收所有不同能量的X-荧光,通过探测器转变成电脉冲信号,经前置放大后,用多道脉冲高度分析器进行信号处理,得到不同能量X-荧光的强度分布谱图,即能量色散光谱,简称X-荧光能谱。

       
        X荧光光谱仪XRF的特征谱线的产生是基于不同的机理:
        a)入射X射线轰击原子的内层电子,如果能量大于它的吸收边,该内层电子被驱逐出整个原子(整个原子处于高能态,即激发态)。
        b)较高能级的电子跃迁,补充空穴,整个原子回到低能态,即基态。
        c)由高能态转化为低能态,释放能量。
        d)能量如果以X射线的形式释放,则会产生X射线荧光。
       
        主要特点:
        无需前处理,非破环性,快速分析。
        准确的定性分析;元素测定范围宽。
        定量分析,根据不同元素。
        可以替代传统的ICP测试方法。
        配置新型滤光片,提高Pb、Cd等的灵敏度提高2倍。
        配置高计数率电路,增加检测器的计数量,计数率为3000~12000CPS。
        增加时间缩短功能,由荧光X射线强度算出测定精度,自动判断所需较少测定时间。
        增加自动工作曲线选择功能,依据识别样品种类的不同而选择最适宜的工作曲线。

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