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SANXX荧光光谱仪EDX3600K

产品型号:  EDX3600K

产品时间:  2018-09-21

所  在  地:  江苏省南京市高淳开发区北岭路200号;(广东办事处)深圳市宝安区福永镇凤凰第一工业区

产品特点:  SANXX荧光光谱仪EDX3600K属于先进的分析检测仪器,随着半导体微电子技术和计算机技术的飞速发展,传统的光学、热学、电化学、色谱、波谱类分析技术都已从经典的化学精密机械电子学结构、实验室内人工操作应用模式,转化成光、机、电、算(计算机)一体化、自动化的结构,并向智能化、小型化、在线式及仪器联用方向发展。

(联系我们,请说明是在 南京三翔分析仪器有限公司 上看到的信息,谢谢!)

产品概述

SANXX荧光光谱仪EDX3600K软件优势

采用公司新的能谱EDXRF软件,先进的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件,具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作,操作简易,对操作人员限制小的特点。
具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加,内置强度校正方法,可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
全新的软件界面和内核,采用FP和EC软件组合的方法,应用面更加广泛。

仪器配置

铍窗电制冷SDD探测器
自旋式样品腔
高效超薄窗X光管
超近光路增强系统
可自动开启的测试盖
自动切换型准直器和滤光片
真空腔体
自动稳谱装置
90mm×70mm的液晶屏
先进的数字多道技术
多变量非线性回归程序
相互独立的基体效应校正模型

SANXX荧光光谱仪EDX3600K技术参数

型号:EDX3600K
X射线源:50KV、1mA
样品腔体积:Φ40.5mm×39.5mm
分析方法:能量色散X荧光分析方法
测量元素范围:原子序数为9~92[氟(F)到铀(U)]之间的元素均可测量
检测元素:同时分析元素达三十多种,可根据客户需要增加元素
含量范围:ppm~99.99%
检测时间:10秒以上
检测对象:标准粉未压片及可以放入标准样品杯的固体、液体及粉末
探测器及分辨率:超大超薄的SDD探测器,分辨率 为144±5eV,可选配极速探测器至125eV
激发源:铑靶或钨靶光管根据客户需求可供选择
测井环境:超真空系统,10秒可抽到10Pa以下
滤光片:6种滤光片组合自动切换
自旋装置:可调速的自旋装置
检出限:对样品中的大多数元素来说,检出限达5~500ppm
真空系统:超真空系统,10秒可到10Pa
数据传输:数字多道技术,快速分析,高计数率
测试台:360°电动旋转式
保护系统:样品腔为电动控制,上盖打开时测试已完成
样品放置:独特的样品杯设计,自带压环,可防止样品晃动
数字多道技术:计数率>50kcps,有效计数率高至500kcps
外形尺寸及重量:669mm×540mm×874mm,90KG
操作环境湿度:≤90%
操作环境温度:15℃~30℃

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