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x荧光光谱仪

产品型号:  EDX系列

产品时间:  2015-10-19

所  在  地:  江苏省南京市高淳开发区北岭路200号;(广东办事处)深圳市宝安区福永镇凤凰第一工业区

产品特点:  EDX-1800x荧光光谱仪,能量色散X射线荧光光谱仪应用于RoHS & WEEE指令分析、各种金属膜厚度测量、工业镀层厚度测量、卤素指令Cl元素分析、矿石、原材料成份分析等、磁性磁性介质和半导体以及各种合 金、贵金属成份分析.

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产品概述

 EDX-1800x荧光光谱仪,能量色散X射线荧光光谱仪应用于RoHS & WEEE指令分析、各种金属膜厚度测量、工业镀层厚度测量、卤素指令Cl元素分析、矿石、原材料成份分析等、磁性磁性介质和半导体以及各种合金、贵金属成份分析.
x荧光光谱仪主要特点
分析元素范围 S-U

分析元素的浓度范围 2ppm—100%
整机稳定性连续8小时测RSD<0.25%
● ROHS/WEEE检测时间100-120

美国进口电制冷Si(Pin)探测器

电制冷Si(Pin)探测器 晶体面积15mm2分辨率<155eV
全数字脉冲处理器技术

优异的峰背比、极高的痕量分析灵敏度

● 50KV,50W自防护X-射线管

复合滤光片智能切换技术

产品特征:

可分析精确分析氯元素和油漆中的铅

集成FP法,Alpha系数法、经验系数法

安全联动装置,软硬结合的辐射设计

操作简单、一键式操作

智能软件自动参数设定和选择滤光片

X射线管超温保护

电子冷却,无需液氮和其它耗材

技术规格

 

仪器型号

EDX-1800

分析原理

能量色散X射线荧光分析法

分析范围

S(16)-U(92)任意元素

检出下限

Cl/Cd/Hg/Br/Cr/Pb2 ppm

样品形状

任意大小,任何不规则形状

样品类型

塑胶/金属/薄膜/粉末/液体等

X射线管

靶材

钼(Mo)靶

管电压

5─50KV

管电流

1─1000A

探测器

美国AMP-TEK Si-PIN探测器,高速脉冲高度分析系统

高压发生器

美国SPELLMAN高压发生器

滤光片

智能滤光片自动选择并自动转换

样品观察

500彩色摄像机

分析软件

终身免费升级

分析方法

Alpha系数法(NBS-GSC法)FP法、标准曲线法

符合规范

IEC62321SNT 2003.4-2006 SNT 2003.5-2006

 

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